Microscopio Elettronico a Trasmissione (TEM) e a Scansione (SEM)
Il microscopio elettronico a trasmissione (TEM) rivela elettroni che passano attraverso un campione dallo spessore molto sottile.
Il microscopio elettronico a scansione (SEM) sfrutta gli elettroni respinti dalla zona del campione vicina alla superficie per generare l’immagine.
Microscopio a Forza Atomica (AFM)
Il microscopio a forza atomica (AFM) visualizza la topografia superficiale di un materiale con risoluzione nanometrica e fornisce informazioni su proprietà meccaniche, elettriche e magnetiche delle superfici di nano-materiali.
Microscopio Ottico
Il modello più diffuso di microscopio è quello ottico, formato da un sistema di lenti con cui viene esaminato un campione di materiale.